慘雜鎢絲垂熔過程中滲雜劑的揮發中,Si和A1的摻雜效應與K相似。其數量分別為120~240ppm和40~80ppm。垂熔鎢條裏的K含量與T1的關系見圖3。各標號鎢條的A1含量均小於lOppm,Si含量均小於14ppm。可見,摻雜進鎢粉顆粒內部的Si和Al在垂熔過程中已揮發殆盡,只有相當數量的K殘留下來。
殘留在鎢條裏的K與摻雜進鎢粉顆粒內部的鉀的重量百分比與T1的關系見圖4。該圖表明,當T1<600℃時,這時摻雜效應的機制以顆粒長大機制為主,K大約殘留30~40wt.%,當630<T1<710℃時,這時摻雜效應的機制以相變機制為主,K大約殘留60~70wt.%。
殘留在鎢條裏的K與摻雜進鎢粉顆粒內部的鉀的重量百分比與T1的關系見圖4。該圖表明,當T1<600℃時,這時摻雜效應的機制以顆粒長大機制為主,K大約殘留30~40wt.%,當630<T1<710℃時,這時摻雜效應的機制以相變機制為主,K大約殘留60~70wt.%。


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